測定について
表面状態をAFM（原子間力顕微鏡）によって測定します。AFMの各種画像と表面粗さの解析を行い、わかりやすく比較します。
| サンプル１ SUS材 マイクロショット | |
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| サンプル２ SUS 素材のまま | |
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| 各サンプルの比較 | |
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| 各サンプルの比較グラフ | |
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| このサンプル測定について詳しくは → | 素材表面加工の違いによる表面状態の 原子間力顕微鏡（AFM）解析結果 (PDF 621KB) |
受託測定タイプ
| タイプ | 価格 | 詳細 |
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| A | 15,000円 / １サンプル | AFM各種画像、比較データシート |
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納期
装置のご見学、測定に関するご相談
随時、お受けいたしております。お気軽にお問い合わせ下さい。
お問い合わせフォームはこちら本受託測定は、誠に申し訳ございませんがサンプルのお試し測定(無償)を致しておりません。初回より有料となります。ご了承下さい。
